| 是否进口：否 | 产地：以色列 | 品牌：CAMTEK |
| 型号：Eagle-I | 尺寸：3000*2600 | 类型：检测 |
| 适用范围：大量产的2D检测适用于部分前道工艺： ?电镀bump前后检测； ?电测针印大小的检测； ?OQC检测 | 重量：400 | 加工定制：是 |
| 规格：2 |
GANNET:
A、亚微米级别（0.3um）的检测精度；
B、主要应用方向（front-end inspection）：光刻，刻蚀，注入，CMP，OQC，TSV（加选件）
CONDOR 100（高速度，高精度，对应FALCON 500）：
A、主要应用方向：探针压痕，特征尺寸，放置位置测量，墨点识别，***全检或者抽检；
B、2D检测的精度：0.2um，测量最小尺寸：10um（直径，宽度，长度，位置偏差）；
3D高度精度（CCS）：0.1um，测量范围：2-100um；
CONDOR 200(特殊晶圆检测,对应FALCON600)：
A、主要检测对象：发光二极管,MEMS，光学器件，薄晶圆，有穿孔，透明/半透明晶圆等，主要是晶圆切割前后；
B、检测晶圆表面缺陷，测试标记，玻璃和MEMS的结构，切割损伤等；
C、2D检测：检测精度0.2um，最小检测尺寸：10um；
3D检测：高度精度0.1um，检测范围2-100um（CCS）；高度精度0.3um，检测范围7-450um；
CONDOR 300(对应FALCON800)：
A、主要检测：表面缺陷，探针压痕，特征尺寸，位置精度，墨点标识，锡焊，金，无铅，铜凸点等
B、2D检测：精度0.2um，最小尺寸：10um；
3D检测：高度精度0.1um，检测范围2-100um（CCS）；高度精度0.3um，检测范围7-450um；
