| 产品特性：自动AOI | 是否进口：否 | 产地：以色列 |
| 品牌：CAMTEK | 型号：Eagle-I | 尺寸：3000*2600 |
| 类型：自动AOI | 适用范围：主要应用领域：CMOS传感器阵列，LED良率监测，MEMS特殊结构监测，TSV，mBUMP等。大量产 | 重量：400 |
| 加工定制：是 | 规格：2 |
CAMTEK 自动光学检验
公司概述
Camtek是一个***的开发商和制造商的高端半导体行业检验和计量设备。Camtek的系统检查和测量晶圆半导体器件的整个生产过程,包括前道和封装,和组装的检测。Camtek系统检查晶片是最苛刻的半导体市场,包括***互连包装、内存、CMOS图像传感器、微机电系统和射频,服务***的全球IDMs OSATs和铸造厂。
性能：Camtek检验和计量系统可以在高通量检测有缺陷的ICs可靠,确保只有known-good-die交付给客户的最终产品。***的包装技术的增长,已被证明是最***解决方案的高端产品,Camtek提供了各种检验和计量技术,可以根据客户的需求快速高效地帮助他们满足最严格的要求没有缺陷的产品以及支持需求增长和投放市场的时间。
创新：Camtek创新使得它的技术领导人检验和计量在半导体领域的细分市场服务,通过交付解决方案,已成为许多应用的行业标准。 获胜的结合性能和灵活性与易操作和可靠性,为客户提供的资本投资。
响应性：本地团队在每一个领域是完全独立的,能够安装系统,添加新功能和提供所需的全方位的服务我们的客户。精益组织结构使快速反应引起行业需求和挑战。 Camtek软件,模块化的体系结构的系统可以解决独特的客户需求的高度定制,同时提供简单和具有成本效益的领域升级包安装设备。
1. Eagle-AP(3D/2D)
Eagle是大量产的2D检测设备，采用了CAMTEK进的检测系统。
? 检测小到2um的bump；
? 量测单片5000万点的bump；
? 量测bump尺寸和间距；
? RDL后的线宽线距；
? TSV填孔后的尺寸；
2D检测精度0.2um，3D检测高度精度0.05um（量测范围2~100um）
