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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用
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CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

主要应用领域:CMOS传感器阵列,LED良率监测,MEMS特殊结构监测,TSV,mBUMP等。大量产的2D检测适用于部分前道工艺:电镀bump前后检测、电测针印大小的检测、OQC检测、划片后的检测等;

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产品特性:自动AOI是否进口:否产地:以色列
品牌:CAMTEK型号:Eagle-I尺寸:3000*2600
类型:自动AOI适用范围:ADI/AEI/API/ALI检测重量:400
加工定制:是规格:2

CAMTEK 自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用详细介绍

CAMTEK  自动光学检验AOI设备 在 碳化硅(SiC) 领域的应用

碳化硅碳化硅晶片是未来一代半导体材料,具有独特的电学性能和优异的热性能。 与硅片和砷化镓晶片相比,碳化硅晶片更适合高温和高功率设备应用程序。
Camtek开发专用的检验和计量解决方案,以及分析工具来解决这一新兴市场。

功能

?处理透明材料区域使用黑暗查克在晶片上
?背光查克的早期阶段的过程
?朋友处理透明的晶片
?eef——边缘控制能力
?自动缺陷分类(ADC)基于收益管理的深度学习
?弓测量
?预测收益率-晶圆缺陷位置精度<2um

技术

?sts -表面形貌传感器
?背光

 

产品

 

EagleT-AP

为***的包装设计市场,EagleT-AP提供了2 d和3 d检验和计量在同一平台上,同时保持极高的性能和吞吐量水平。

 

EagleT-i

设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个最快的和最***的2 d检查工具在市场上。

 


 


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